JEOL JSM 6400F

JEOL JSM 6400F

Laboratoire analytique / Analyses de surface / Spectroscopie des électrons Auger (AES)

JEOL JSM 6400F

Fournisseur :

Modèle :

Fonction :

Caractérisation de surface et analyse chimique élémentaire

CAPACITÉ:    

Résolution: 1,5 nm à 30 kV et à 8 mm WD

Grossissement: 10X à 500 000X

Courant de sonde: 10-12 à 10-10 A

Canon à électrons: émission de champ à cathode froide

Détecteurs: Scintillateur / photomultiplicateur

Détecteur rétrodiffusé GW Electronic System 47

Tension d’accélération: 500V à 30kV

Dimensions de la chambre:

  • Type: Stade du goniomètre entièrement eucentrique
  • X = 100 mm
  • Y = 110 mm
  • Z = 34 mm
  • Inclinaison: -5˚à 60˚
  • Rotation: 360˚ sans fin

Échange d’échantillons:

  • Par sas: jusqu’à 150 mm de diamètre. Porte-échantillons
  • Par sortie de chambre: 200 mm de diamètre ou plus grands porte-échantillons

Détecteur EDS: Si (Li) (30 mm2) Prism 2000 avec système d’acquisition Imix permettant la détection de Be

Détecteur EBSD: Oxford HKL permettant une orientation cristallographique

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