Struers, Buehler, ATM, Leco, Allied High Tech, SBT

Struers, Buehler, ATM, Leco, Allied High Tech, SBT

Analytical laboratory / Microsectioning / Sample preparation (mechanical)

Struers, Buehler, ATM, Leco, Allied High Tech, SBT

Supplier :

Model :

Purpose :

Cutting, mounting, grinding & polishing micro electronic parts for characterisation and/or failure analysis.

CAPABILITY:

Cutting

Rough cutting max sample size :50  X 50 cm

Precision cutting : 160 X 50 mm / 70 mm Dia.

Low speed : max dia.  30 mm

Wire saw : 45 X 45 X 20 mm (max. sample size)

Mounting

Cold mounting

clear epoxy 8 hour cure room temp. (very low shrinkage)

Acrylic  10 min. cure room temp.

Grinding / polishing (wet or dry) up to 12 inches platen

Grinding

Maxi sample size: 3 inches Ø or 3 inches x 4 inches rectangular,  2 inches high

SiC, diamond, diamond Lapping film, (wet or dry)

Back side delayering

Precision grinding

High removal rate

Polishing

Diamond , Al2O3, Colloidal silica, lapping film

Automatic preparation

Precision  down to 1µm (small sample size)

Large sample size (special tooling may be required)

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