Physical Electronics – Quantera II

Physical Electronics – Quantera II

Laboratoire analytique / Analyses de surface / Radiographie de spectroscopie photoélectronique (XPS)

Physical Electronics – Quantera II

Fournisseur :

Modèle :

Fonction :

Analyse chimique moléculaire des premières couches atomiques d'une surface. Fournit une spectroscopie à grande et à micro-zones à haute sensibilité, un profilage inorganique et organique de profondeur supérieur et une analyse entièrement automatisée des échantillons isolants ou conducteurs

CAPACITÉ:    

Faisceau de rayons X focalisé et scan pour l’imagerie et l’analyse des échantillons

Taille du spot radiographique programmable entre 9 µm et 300 µm (min. ≤ 7,5 µm)

Analyseur d’énergie de condensateur sphérique avec détection multicanal

Pistolet ionique à pulvérisation d’argon basse tension haute performance (≥ 5,0 µA à 5 kV)

Compensation de charge à double faisceau

Platine d’échantillon de précision à grande course 5 axes

Manipulation robotisée des plateaux d’échantillons

Taille de l’échantillon 75 mm x 75 mm x 25 mm ou 100 mm rond (plaquette de 4 pouces)

Chambre d’analyse à vide ultra élevé pour éviter la contamination

Vide du système ≤ 6,7 x10-8 Pa

Pression différentielle du pistolet de pulvérisation ionique Ar ≤ 6,7 x 10-6 Pa

Sensibilité élémentaire ≥ 15 000 cps à ≤ 0,6 eV, sur Ag 3d5

Profilage de la profondeur de pulvérisation inorganique et organique la plus performante

Neutralisation de charge à double faisceau

 

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