Laboratoire intégré des microsystèmes (MEMS) / Métrologie / Inspection des défauts et décompte des particules
Rudolph F30-B30-E30
Fournisseur :
Modèle :
Fonction :
Inspection automatisée de la face avant, des bords et de l'arrière dans la plage visible pour une tranche de 200 mm et pour une tranche de 200 mm découpée et étirée sur un cadre de film
CAPACITÉ:
Taille de la tranche: 200 mm
Plage d’épaisseur des tranches: 300 – 1200 µm
Types de tranches: Silicium, Verre, tranches perforées, tranches avec trous traversants en silicium, tranches en dés sur cadre de film.
Inspection à 100% sur le devant, les bords et l’arrière
Rapport d’aspect élevé grâce au silicium via inspection
Inspection en fond clair et en fond noir
Flexibilité de résolution: 0,5 µm – 10 µm
Autofocus laser pour les tranches arquées
Détecte les défauts de boursouflure, la boue, les contaminants de nettoyage et les films résiduels
Effectue la métrologie automatisée de suppression des billes de contour
Détecte les copeaux et les fissures, les défauts de délaminage, les particules arrière, les résidus indésirables, les rayures et les agrégats de défauts
Classification et regroupement des défauts à la volée