CAPACITÉS : Source rayons-X : Transmission sans filament Voltage : 30-160 kV Puissance maximale : 20 W Reconnaissance de détails : 0,1 µm (0,3 µm à
Capacités : Modes disponibles: C-SCAN et DTS (Dynamic Through Scan) Design pour un transducteur Balayage jusqu’à 300 mm Fréquences: 10
CAPACITÉ: Réflectométrie electro-optique terahertz pulsée Méthode d’isolation rapide et non destructive Localisation des défauts à l’intérieur de la pièce sous
CAPACITÉ: Matériaux bruts : vitre, polymères, plastiques, grenat et autres (rigides ou flexibles) incluant les liquides Pas de fluides de
CAPACITÉ: Résolution <0,6 um: reconnaissance des caractéristiques de 0,5 micron Source de rayons X: jusqu’à 150keV Champ de vision: 0,65
CAPACITÉ: Réflectométrie dans le domaine temporel Module d’échantillonnage TDR 80E04 (20Ghz) Module d’échantillonnage TDR 80E10 (50 GHz) Facteur Q Rapport