Teraview EOTPR 2000

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CAPACITÉ: Réflectométrie electro-optique terahertz pulsée Méthode d’isolation rapide et non destructive Localisation des défauts à l’intérieur de la pièce sous

12 février 2017

CAPACITÉ:     Zone de numérisation 310 x 307 mm Répétabilité de +/- 0,5 micron de l’axe de balayage Inertialement équilibré pour

12 février 2017

CAPACITÉ:     Résolution <0,6 um: reconnaissance des caractéristiques de 0,5 micron Source de rayons X: jusqu’à 150keV Champ de vision: 0,65

12 février 2017

CAPACITÉ:     Réflectométrie dans le domaine temporel Module d’échantillonnage TDR 80E04 (20Ghz) Module d’échantillonnage TDR 80E10 (50 GHz) Facteur Q Rapport

12 février 2017

CAPACITÉ:     Colonne de rayon-X: Tension maximale 160 kV Courant max 600µA Résolution d’imagerie inférieure au micron 3 modes de mise

12 février 2017