CAPACITÉ: Matériaux bruts : vitre, polymères, plastiques, grenat et autres (rigides ou flexibles) incluant les liquides Pas de fluides de
CAPACITÉ: Résolution <0,6 um: reconnaissance des caractéristiques de 0,5 micron Source de rayons X: jusqu’à 150keV Champ de vision: 0,65
CAPACITÉ: Réflectométrie dans le domaine temporel Module d’échantillonnage TDR 80E04 (20Ghz) Module d’échantillonnage TDR 80E10 (50 GHz) Facteur Q Rapport
CAPACITÉ: L’instrument SourceMeter® 20W modèle 2400 permet de rechercher et de mesurer la tension de ± 5µV (source) et ±
CAPACITÉ: OHMS 9 plages: 10 à 1G Ohms à deux et quatre fils avec compensation de décalage Jusqu’à 50 000
CAPACITÉ: Réflectométrie dans le domaine temporel Module d’échantillonnage TDR 80E04 (20Ghz) Module d’échantillonnage TDR 80E10 (50 GHz) Facteur Q Rapport
CAPACITÉ: Mesures de haute précision des dispositifs semi-conducteurs Jusqu’à 2000 Volts ou 10 Amp Sourcing Jusqu’à 220 watts Résolution de
CAPACITÉ: Large gamme d’applications micro-ondes Inclue la caractérisation et les tests des appareils actifs Modélisation des appareils Circuit passif numérique
CAPACITÉ: Testez tous les modules de facteur de forme jusqu’à 55 mm x 55 mm Compatible avec un pas de
CAPACITÉ: Station de mesure manuelle, pour plaquettes et substrats, utilisable pour une grande variété d’applications telles que I-V / C-V,